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高低溫老化房適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗其各項性能指標。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到標準GB10592-89高低溫試驗箱技術條件，適用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A:低溫試驗方法，試驗B:高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫、高溫試驗及恒定溫熱試驗。產(chǎn)品符合GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標準。高低溫試驗箱與高低溫交變試驗箱的區(qū)別主要在于控制部分，高低溫試驗箱的控制部分主要是通過數(shù)顯儀表控制的，而高低溫交變試驗箱是通過可編程控制器控制的，數(shù)顯儀表一般都為手動控制，能執(zhí)行的命令一般為單次，而可編程控制器則是全自動控制的，可以預先把要設置的參數(shù)以及試驗的次數(shù)設置進去，然后按照所設置的程序工作。
主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、高溫高濕條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產(chǎn)品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。
高低溫老化房是按照下列標準之一或其結合為依據(jù)而制造的:
GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件
GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件
GB10586-89 濕熱試驗箱技術條件
GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件
GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設備
GB/T5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設備
GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2423.3-91電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導則
高低溫老化房適用于航空航天產(chǎn)品、 信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各性能指標。
高低溫老化房具體參數(shù)
