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產(chǎn)品分類
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液冷機(jī)
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雙開(kāi)門高低溫試驗(yàn)箱
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快速溫變循環(huán)與振動(dòng)步進(jìn)綜...
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干燥箱
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高溫老化試驗(yàn)箱
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復(fù)層式高低溫試驗(yàn)箱
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總成臺(tái)架試驗(yàn)箱
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兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱
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自動(dòng)化高低溫試驗(yàn)箱
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高低溫交變濕熱箱
- 高低溫濕熱環(huán)境艙
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防爆高低溫試驗(yàn)箱
- 步入式高低溫試驗(yàn)箱
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恒溫恒濕試驗(yàn)箱
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高低溫試驗(yàn)箱
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鋰電池高低溫試驗(yàn)箱
- 冷熱沖擊試驗(yàn)箱
- 快速溫變?cè)囼?yàn)箱
- 步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 步入式試驗(yàn)室
- 高溫箱
- 振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)
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氙燈耐候老化試驗(yàn)箱
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紫外線加速老化試驗(yàn)箱
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沙塵試驗(yàn)箱
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高低溫試驗(yàn)箱對(duì)于芯片測(cè)試的方法和意義介紹
高低溫試驗(yàn)箱對(duì)于芯片測(cè)試的方法和意義介紹 高低溫試驗(yàn)箱具備高溫，低溫，常溫等不同溫度的設(shè)定，在芯片行業(yè)廣泛用于老化測(cè)試，今天海銀試驗(yàn)裝備分享高低溫試驗(yàn)箱對(duì)于芯片測(cè)試的方法和意義介紹。 芯片*終產(chǎn)品檢測(cè)(FT)，是在晶片通過(guò)了封裝測(cè)試后對(duì)整個(gè)晶片進(jìn)行的檢測(cè)。在封裝過(guò)程中經(jīng)常用來(lái)過(guò)濾有缺陷的芯片和無(wú)法覆蓋的芯片測(cè)試，如高速測(cè)試等。一般來(lái)說(shuō)，封裝后的測(cè)試，需要用到高低溫試驗(yàn)箱，來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行[詳情]
- 高低溫試驗(yàn)箱對(duì)于芯片測(cè)試的方法和意義介紹 2022-04-25